高壓加速老化試驗箱

PCT高壓加速老化試驗箱

【PCT高壓加速老化試驗箱用途】

豪恩系列PCT高壓加速老化測試設備適用于國防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節。測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間.

【產(chǎn)品特點(diǎn)】

1.采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率；

2.獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞；

3.門(mén)鎖省力結構，解決一代產(chǎn)品圓盤(pán)式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性；

5.超長(cháng)效實(shí)驗運轉時(shí)間，長(cháng)時(shí)間實(shí)驗機臺運轉1000小時(shí)；

6.水位保護，透過(guò)試驗室內水位Sensor檢知保護；

7.tank耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg；

8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置；

9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕；

10.全觸控式控制器，支持U盤(pán)導出歷史記錄。

【性能】

     型號：HE-PCT-300

     1.1 設定溫度: +100 ℃ ～ +132 ℃( 飽和蒸氣溫度 )

     1.2 濕度范圍: 百fen百蒸氣濕度

     1.3濕度控制穩定度：±1%RH

     1.4 使用壓力: 1.2～2.89kg(含1atm)

     1.5 時(shí)間范圍: 0 Hr ～ 9999 Hr

     1.6 加壓時(shí)間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

     1.7 溫度波動(dòng)均勻度 : ±0.5℃

     1.8 溫度顯示精度：0.1℃

     1.9 壓力波動(dòng)均勻度 : ±0.02Kg

     1.10 濕度分布均度：±5%RH

【試驗箱材質(zhì)】

     2.1 試驗箱尺寸: ∮300 mm x L500 mm）,圓型試驗箱

     2.2 全機外尺寸:  900x  800 x 1600 mm ( W * D * H )

     2.3 內桶材質(zhì): 不銹鋼板材質(zhì)（SUS# 316  3 mm）或噴塑

     2.4 外桶材質(zhì): 不銹鋼板材質(zhì) 

     2.5 保溫材質(zhì)：巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

     2.6 蒸汽發(fā)室加熱管：鈦管加熱，不易生銹。

     2.7 控制系統: 

a.采用觸控式控制器，控制試驗溫度，時(shí)間及信息查詢(xún)和數據導出.

b.采用指針顯示壓力表.

c.微電腦 P.I.D 自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度.

d.手動(dòng)入水閥（自動(dòng)補水功能，可不停機連續試驗）.

2.8機械結構:

a.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計.

b.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.

c.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 400Hrs 運轉.

d.packing設計使門(mén)與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式*不同,可延長(cháng)packing壽命.

e.臨界點(diǎn) LIMIT 方式自動(dòng)安全保護,異常原因與故障指示燈顯示.

2.9安全保護：

a.進(jìn)口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結構，保證壓力無(wú)泄露。

b.整機配備超壓保護，超溫保護，一鍵泄壓，手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置，保證用戶(hù)的使用和安全。

c.反壓門(mén)鎖裝置，在試驗室內部有壓力時(shí)，試驗箱門(mén)無(wú)法打開(kāi)。